ЗАВОД КОЛЬЦЕВЫХ ЗАГОТОВОК
Качество в деталях
г. Омск, ул. 3-я Казахстанская, 4
Пн-Пт: 09:00-18:00
Cб-Вс: Выходной
Заказать звонок
Войти

Проведение исследований макро и микроструктуры

8. микроструктура.jpg

При отработке технологического процесса или по требованию Заказчика проводятся металлографические исследования отливок от партии:

Макроструктурный анализ.

Исследование строения металлов и сплавов невооруженным глазом или при небольшом увеличении, с помощью лупы, осуществляется после предварительной подготовки исследуемой поверхности (шлифование и травление специальными реактивами). В результате устанавливаются:

  • вид излома (вязкий, хрупкий);
  • величина, форма и расположение зерен и дендритов литого металла;
  • дефекты, нарушающие сплошность металла (усадочную пористость, газовые пузы-ри, раковины, трещины);
  • химическая неоднородность металла, вызванная процессами кристаллизации или созданная термической и химико-термической обработкой;
  • волокна в деформированном металле

Микроструктурный анализ.

Изучение поверхности при помощи световых микроскопов. Микрошлифы предварительно подготавливаются (шлифование и полирование до зеркальной поверхности). Для выявления микроструктуры поверхность травят реактивами, зависящими от состава металла. После предварительной подготовки можно наблюдать на микрошлифах трещины, неметаллические включения, структуру металла до и после термической обработки и т.д. Можно выявить форму, размеры и ориентировку зерен, отдельные фазы и структурные составляющие. Увеличение – 50…1000 раз позволяет обнаружить элементы структуры размером до 0,2 мкм.

В дополнение к ультразвуковому контролю на предприятии применяется капиллярный метод неразрушающего контроля поверхностей изделий. Цветная дефектоскопия (ЦДС) предназначена для обнаружения невидимых или слабовидимых невооруженным глазом дефектов, выходящих на контролируемую поверхность, определения их расположения, протяженности (для протяженных дефектов типа трещин) и ориентации по поверхности. Метод основан на капиллярном проникании индикаторной жидкости в полости поверхностных несплошностей материала объектов контроля и регистрации образующихся индикаторных следов визуальным способом или с помощью преобразователя.

Класс чувствительности IV или II по ГОСТ 18442-80.